[16p-P05-1~20] 12.2 評価・基礎物性

[16p-P05-10] 放射光X線回折・吸収分光測定を用いた有機半導体薄膜の構造・化学状態へ及ぼす紫外可視光照射効果の検討

〇渡辺 剛¹、瀬戸山 寛之²、馬込 栄輔²、吉本 則之³、廣沢 一郎² (1.JASRI、2.九州シンクロ、3.岩手大理工)

キーワード：

有機半導体、テンダーXAFS、X線回折