講演情報
[16p-P05-20]TTA-UC系のしきい値励起光強度のワンショット測定法
〇鎌田 賢司1、ヘック クライレ1 (1.産総研ナノ材)
キーワード:
しきい値励起光強度、ワンショット計測、三重項-三重項消滅光アップコンバージョン
三重項-三重項消滅(TTA)光アップコンバージョン(UC)のしきい値励起光強度をワンショットの画像撮影で評価する手法を開発した。空間分布が既知の励起光を用いて試料を励起し、得られたUC発光の2次元強度分布を元の励起光強度分布と比較し、理論式を適応することで評価する。従来法に比べて著しい短時間化と、リアルタイム測定への可能性が示された。
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