[16p-P05-1~20] 12.2 評価・基礎物性

[16p-P05-9] 有機半導体薄膜評価用テンダーXAFS装置の開発

〇瀬戸山 寛之¹、渡辺 剛²、河本 正秀¹、廣沢 一郎¹ (1.九州シンクロ、2.JASRI)

キーワード：

有機半導体、テンダーXAFS、DBTTT