講演情報

[CS14-60]LP点群データを用いた危険斜面スクリーニング手法の開発

*横田 祐樹1、久田 裕史2、笹井 晃太郎1、小濱 健吾3、貝戸 清之1 (1. 大阪大学、2. 西日本高速道路株式会社、3. 高知工科大学)
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キーワード:

斜面崩壊、点群、航空レーザー測量、深層学習、セグメンテーション

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