講演情報

[I-136]応力発光体を用いた応力集中部の輝度分布と応力解析

*宮川 睦巳1、志村 穣2、種 健3、佐々木 徹4 (1. 公立大学法人 前橋工科大学、2. 拓殖大学、3. 北九州工業高等専門学校、4. 長岡工業高等専門学校)
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キーワード:

応力発光体、応力解析、損傷度評価、非破壊検査

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