令和6年度土木学会全国大会第79回年次学術講演会
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15:20 〜 15:30
[III-147]
画像解析を用いた地盤材料の粒度測定におけるDX
*黒田 卓也
1
、吉野 修
1
、大石 一明
1
、佐藤 有香
1
(1. 西松建設株式会社)
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キーワード：
画像解析、粒度分布、DX、生産性向上
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