講演情報

[V-839]PC構造物における緊張材の健全性評価に関する実験的研究

*宮澤 真1、内山 京介1、大下 英吉1 (1. 中央大学)
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キーワード:

非破壊検査、PC構造物、磁場、直流電流、緊張材損傷

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