講演情報

[VI-1116]漏洩磁束法を用いた非破壊検査機器によるプレテンションT桁の調査事例

*清水 義史1、新山 将史2 (1. 株式会社 長大、2. コニカミノルタ株式会社)
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キーワード:

非破壊検査、漏洩磁束法、SenrigaN、プレテンションT桁

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