講演情報

[VI-790]かぶり計測の精度向上のための点群取得方法の検証

*塚田 幸佑1、鈴木 雄大1、髙橋 健太1 (1. 東日本旅客鉄道株式会社)
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キーワード:

かぶり計測、点群、SfM

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