プラスチック成形加工学会第33回秋季大会
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講演情報

10:40 〜 11:20

[C-205]X線・中性子線利用による高分子材料のナノ構造解析

*山本 勝宏1 (1. 信州大学 工学部 物質化学科)

キーワード：

X線・中性子散乱・反射率、高分子材料、放射光

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