講演情報
[3A07]NanoTerasuにおけるテンダーX線タイコグラフィの測定例と今後の展望
*金子 房恵1,2、石黒 志3,4、阿部 真樹3,4、高山 裕貴3,4,5,6、吉田 純也3、星野 大樹3,4,2,6、上松 英司3,7、高澤 駿太郎3,7、佐々木 雄平3,7、大川 成3,7、高橋 慧智8、滝沢 寛之8、岸本 浩通1、髙橋 幸生3,4,2,9 (1. 住友ゴム工業株式会社 (日本)、2. 東北大学 多元研 (日本)、3. 東北大学 国際放射光ｲﾉﾍﾞｰｼｮﾝ・ｽﾏｰﾄ研究ｾﾝﾀｰ (日本)、4. 理化学研究所 放射光科学研究ｾﾝﾀｰ (日本)、5. 東北大学 農学研究科 (日本)、6. 東北大学 ｸﾞﾘｰﾝｸﾛｽﾃｯｸ研究ｾﾝﾀｰ (日本)、7. 東北大学 工学研究科 (日本)、8. 東北大学 ｻｲﾊﾞｰｻｲｴﾝｽｾﾝﾀｰ (日本)、9. 東北大学 金研 (日本))
キーワード：
NanoTerasu、テンダーX線、高分子材料