[P] P251~P268

[P254] 電気抵抗率測定を用いた引張変形中のボイド形成機構の調査

*加藤 光希¹、高田 健²、田所 英二² (1. 大同大(院生)、2. 大同大)

キーワード：

ボイド、電気抵抗、画像解析、引張変形

SUS430の引張変形中におけるボイド形成挙動を電気抵抗率測定により調査した.電気抵抗率の急激な上昇が見られ,上昇はネッキングに加えてボイドも影響すると言えた.また,ボイドの解析は 3 次元解析が適切であった.