講演情報

[S6.16]照射による不均一な微細組織形成に対するTEM/STEMイメージングの実現可能性に関する技術研究 (第2報)

*叶野 翔1、安堂 正己1、濱口 大1、渡辺 淑之1、柴山 環樹2、野澤 貴史1 (1. 量研、2. 北大)

キーワード:

F82H、照射欠陥、Heバブル、TEM/STEM、EF-TEM

本研究ではF82H鋼中におけるHeバブルの可視化技術検討として、Energy Fliting-TEM(EF-TEM)法による二次元の相対厚さ(t/λ)分布の評価から微小Heバブルの同定を試みた。

コメント

コメントの閲覧・投稿にはログインが必要です。ログイン