ランチョンセミナー

年会期間中に下記のような内容で話題提供企業によるランチョンセミナーを開催いたします。ランチョンセミナーは年会参加者の皆様に昼食時間を利用して食事をとって頂きながら,企業による製品紹介や技術情報を聴講いただく企画でございます。参加費無料です。多くの皆様のご参加をお待ちしております。

 

開催日時

9月24日(水)12:20~13:10
9月25日(木)12:20~13:10

会場

北海道大学工学部 年会口頭発表会場内

 

参加費

無料(但し,年会参加登録者に限る)

 

参加方法

各開催日の当日8時30分より総合受付付近にて参加チケットを配布予定です。年会参加登録証を提示のうえ,ご希望のセミナー参加チケット(御一人様1日1枚)をお渡しいたします。開催時間になりましたら,参加チケットをご持参いただき,セミナー会場までお越しください。参加チケットは予定数になり次第締め切ります。参加チケットのない方の入場はお断りすることもございます。
注)フードロスをなくすため,参加チケットを受け取った方の無断キャンセルは固くお断りします。キャンセルの場合は,参加チケットを配布場所へ必ずお戻しください。
注)ランチョンセミナーは同業者様のご入場(参加チケットをお持ちの場合でも)をお断りする場合がございます。予めご了承ください。
注)ランチョンセミナーの参加者へ開催企業よりアンケートのご記入をお願いすることがございます。予めご承知おきください。
 

開催セミナー

[9月24日(水)]
【C会場】ICP-MSによる半導体材料分析最新情報および自動化が変える分析化学の世界のご紹介
 アジレント・テクノロジー株式会社 河本清高

ICP-MSでの半導体材料金属マトリクス試料分析例をはじめ、アジレントの自動化ソリューションとしてICP-OESおよびICP-MS用の自動希釈装置 ADS 2  の革新的な機能と特長、およびHPLCなどでのHPLCなどの自動化ソリューションをご紹介します。


【D会場】JAIMAジョイントセミナー2025「機器分析の最新技術ご紹介1」
・GCxGC分析の次なる課題“成分同定”を解決!msFineAnalysisAI Ver. 3を用いた最新アプリケーション
 日本電子株式会社

AIによる未知物質構造解析を実現したGC/MSデータ解析ソフトウェアmsFineAnalysis AIに、包括的二次元ガスクロマトグラフィー-高分解能飛行時間質量分析計(GCxGC-TOFMS)で取得したデータを解析する機能を新たに搭載した“Ver.3”を紹介します。

・高機能自動滴定装置の紹介-多彩な機能で品質管理や研究開発をサポート
 東亜ディーケーケー株式会社

2系列同時滴定など、多様な用途にお応えする滴定装置です。ターンテーブルを2台、もしくはその1台を自動サンプリング装置や電子天秤へ変更して接続でき、拡張性あるシステムで多様な用途・省力化を実現できます。
 

[9月25日(木)]
【C会場】固体表面分析の最前線:ユーザー講演「LA‑ICP‑MS活用技術」と次世代顕微IR「Spotlight Aurora」のご紹介
 パーキンエルマー合同会社
 柳澤華代(JAEA)、新居田恭弘(パーキンエルマー)

固体表面分析を主テーマとし、まずLA‑ICP‑MSを用いた生体硬組織や合金など多様な固体分析事例のユーザーボイスを紹介し、次に高度な可視観察機能を備えた次世代顕微IRによる固体の可視観察・赤外複合分析への応用例を紹介します。

 

【D会場】JAIMAジョイントセミナー2025「機器分析の最新技術ご紹介2」
・リガクによる構造解析プラットフォーム:X線から電子線まで
 株式会社リガク

X線と電子線を用いた単結晶構造解析技術の最新動向と、サブミクロン粒子への応用事例を紹介します。

・展示会JASISでの国際シンポジウム「RSC-JAIMA Symposium on Analytical Chemistry」のご紹介
 一般社団法人日本分析機器工業会

展示会JASIS@幕張メッセで開催予定の「RSC-JAIMA Symposium on Analytical Chemistry」のご紹介。招待講演者による最新技術紹介と学生ポスター発表募集、さらには海外学生および留学生向けの渡航支援制度についてご案内します。