セッション詳細

[17a-B1-1~7]13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・MEMS・装置技術

2024年9月17日(火) 9:00 〜 11:00
B1 (展示ホールB)
居村 史人(Hundred Semiconductors)、 呉 研(東工大)

[17a-B1-1]カンチレバー構造a-InGaZnO TFTの応力依存性評価

〇岩松 新之輔1,2、峯田 貴2 (1.山形県工技セ、2.山形大学工学部)
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[17a-B1-2]圧電薄膜共振子の開発

〇天本 百合奈1、照元 幸次1、下地 規之1、内貴 崇1、合田 賢司1、木村 俊1、奥 良彰1 (1.ローム(株))
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[17a-B1-3]高感度Au錘1軸MEMS加速度センサにおける錘形状による反り抑制検討

〇(B)向出 千隼1、Devi Srujana Tenneti1、御宿 希祐1、山田 虎人1、町田 克之1、栗岡 智行1、Tso-Fu Mark Chang1、曽根 正人1、三宅 美博1、伊藤 浩之1 (1.東工大)
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[17a-B1-4]マイクロgレベル検出のためのAu錘1軸MEMS加速度センサにおける錘の穴サイズがブラウニアンノイズBNに及ぼす影響

〇(B)山田 虎人1、御宿 希祐1、Tenneti Devi Srujana1、向出 千隼1、町田 克之1、Chang Tso-Fu Mark1、栗岡 智行1、曽根 正人1、三宅 美博1、伊藤 浩之1 (1.東工大)
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[17a-B1-5]ミニマルファブを用いた3軸ピエゾ抵抗型加速度センサの感度低下要因についての検討

〇小粥 敬成1、関藤 竜平1、田中 宏幸2、居村 史人3、谷島 孝1、原 史朗1,2,3 (1.ミニマルファブ、2.産総研、3.Hundred)
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[17a-B1-6]Visualization of strain distribution in MEMS resonators using stroboscopic differential interference contrast microscopy

〇Qian Liu1, Mirai Iimori1, Ya Zhang1 (1.Inst. of Eng., Tokyo Univ. of Agri. &Techno.)
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[17a-B1-7]立体構造トランジスタ製造に対応したCMPプロセス制御技術の開発

〇笠嶋 悠司1、松川 貴1、上嶋 和也1、山岸 雅司1、林 喜宏1 (1.産総研先端半導体RC)
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