セッション詳細
[17a-B1-1~7]13.4 Si系プロセス・Si系薄膜・MEMS・装置技術
2024年9月17日(火) 9:00 〜 11:00
B1 (展示ホールB)
居村 史人(Hundred Semiconductors)、 呉 研(東工大)
[17a-B1-3]高感度Au錘1軸MEMS加速度センサにおける錘形状による反り抑制検討
〇(B)向出 千隼1、Devi Srujana Tenneti1、御宿 希祐1、山田 虎人1、町田 克之1、栗岡 智行1、Tso-Fu Mark Chang1、曽根 正人1、三宅 美博1、伊藤 浩之1 (1.東工大)
[17a-B1-4]マイクロgレベル検出のためのAu錘1軸MEMS加速度センサにおける錘の穴サイズがブラウニアンノイズBNに及ぼす影響
〇(B)山田 虎人1、御宿 希祐1、Tenneti Devi Srujana1、向出 千隼1、町田 克之1、Chang Tso-Fu Mark1、栗岡 智行1、曽根 正人1、三宅 美博1、伊藤 浩之1 (1.東工大)
[17a-B1-5]ミニマルファブを用いた3軸ピエゾ抵抗型加速度センサの感度低下要因についての検討
〇小粥 敬成1、関藤 竜平1、田中 宏幸2、居村 史人3、谷島 孝1、原 史朗1,2,3 (1.ミニマルファブ、2.産総研、3.Hundred)
[17a-B1-6]Visualization of strain distribution in MEMS resonators using stroboscopic differential interference contrast microscopy
〇Qian Liu1, Mirai Iimori1, Ya Zhang1 (1.Inst. of Eng., Tokyo Univ. of Agri. &Techno.)