講演情報

[7a-N301-2]透過電子顕微鏡を用いたRF-MBE低温成長AlNの極微構造評価

〇川端 重温1、田中 練1、中本 トラン2、藤井 高志3、荒木 努1 (1.立命館大理工、2.R-GIRO、3.立命館大総研)

キーワード:

RF-MBE、結晶成長、透過電子顕微鏡