講演情報

[8a-N302-2]温度可変/多エネルギー光電子分光法による単層MoS2/サファイア構造の結合・電子状態評価

〇長田 貴弘1、佐久間 芳樹1、小畠 雅明2、福田 竜生2、西村 知紀3、李 曙紅3、張 睿騰3、渥美 圭脩3、金橋 魁利3、長汐 晃輔3 (1.NIMS、2.原子力機構、3.東大院工)

キーワード:

硬X線光電子分光、表界面、二硫化モリブデン

MOCVD技術でサァイア基板上に直接成長した単層MoS2で吸着成分やプロセス残渣が界面の結合、電子状態に及ぼす影響を検討した。温度可変のその場観察及び多エネルギー光電子分光法を用いてMoS2/サファイア基板構造の結合・電子状態を評価した結果、温度上昇とともにMoS2以外の成分の分解・脱離とフェルミ準位の変化が確認された。