講演情報
[8p-S203-3]軟X線吸収分光法による液体と固液界面のオペランド計測
〇長坂 将成1 (1.分子研)
キーワード：
軟X線吸収分光法、金属錯体、高分子
軟X線吸収分光(XAS)法による元素選択的な電子状態解析により、溶液中のポルフィリン金属錯体の電子状態と配位構造を調べると共に、ミオグロビン水溶液中のヘム鉄の電子状態を調べた。更に、オペランドXAS計測に分子動力学計算と内殻励起計算を組み合わせることで、アセトニトリル水溶液中の孤立水の構造、混合溶媒で高分子が不溶となる共貧性溶媒効果の機構、固液界面に形成する脂質二重膜の水和構造を調べた。