講演情報
[9a-N105-3]InGaZn2O5バルク単結晶の硬X線光電子分光
〇小林 愛結1,2、山岸 稜也2、澤田 晏伯2、石垣 賢卯1,2、河村 優介1、漆間 由都1、井上 禎人1、平井 萌々香2、加瀬 直樹1,2、保井 晃3、唐 佳藝3、宮川 宣明1,2、齋藤 智彦1,2 (1.東理大理、2.東理大先進工、3.JASRI)
キーワード:
ワイドギャップ半導体、光電子分光
IGZOは透明導電性酸化物として注目されており、その電子構造は酸素欠陥に強く依存する。本研究では、空間群の異なるIGZO-12単結晶に対し、硬X線光電子分光を用いて酸素欠陥の分布と電子構造への影響を解析した。IGZO-11,13との比較により、欠陥分布の起源解明を試みる。