講演情報

[9a-N302-4]Si (100) および (110) ウェーハの急速熱酸化におけるボイド欠陥消滅挙動

〇須藤 治生1、早川 兼1、仙田 剛士1、松村 尚1 (1.グローバルウェーハズ)

キーワード:

点欠陥、急速熱処理、ボイド欠陥