講演情報
[9p-N205-5]X線全散乱と発光特性の同時測定システムを用いた有機・無機ハイブリット蛍光材料の評価
〇下野 聖矢1、渡邊 佳1、河口 彰吾1、山田 大貴1 (1.JASRI)
キーワード：
その場測定
発光特性の熱安定性を評価するために、SPring-8のビームラインBL04B2にX線全散乱と発光特性の同時測定システムを構築した。このシステムにより、100 K～1073 Kの温度領域で、個々の測定データ間で生じる測定条件の差を排除することができ、発光特性の熱安定性を結晶構造の観点から解明することが可能となる。