[9p-N206-1~15] 6.3 酸化物エレクトロニクス

13:45 〜 14:00

[9p-N206-2] 硬X線光電子分光によるλ相Ti₃O₅薄膜の金属絶縁体転移の観測

〇吉松 公平¹、保井 晃² (1.東京科学大物質理工、2.高輝度光科学研究センター)

キーワード：

金属絶縁体転移、酸化チタン、硬X線光電子分光

λ相Ti3O5薄膜で発現する金属絶縁体転移について、硬X線光電子分光測定による観測を行った。転移温度350 Kをまたぐ200 Kから400 Kの範囲で価電子帯スペクトルを測定し、フェルミ準位近傍のTi 3d状態密度に明瞭なスペクトル変化を観測した。