講演情報
[14p-K304-7]非回折光を利用した散乱媒質内での物体検知
〇寺田 陽1、シャフケティ アリフ2、椎名 達雄1 (1.千葉大院、2.三菱電機株式会社)
キーワード：
光計測、非回折光、ランダム媒質
ベッセルビームをはじめとする非回折光は、散乱媒質中での伝搬において自己修復特性を示し、高精度イメージングやレーザー加工などへの応用が期待されている。本研究では、非回折光へ自己変換が可能な環状光について、散乱媒質内での遮蔽と非回折光効果の関係について調べ、将来的な物体検出手法への応用を目指すことを目的としている。