講演情報
[14p-K502-3]ガンマ線ビームを用いた陽電子寿命イメージング分析の可能性
〇田久 創大1、平 義隆2、平出 哲也3、錦戸 文彦1、カン ハンギュ1、田島 英朗1、小畠 藤乃1、松本 謙一郎1、高橋 美和子1、山谷 泰賀1 (1.量研、2.分子研、3.原研)
キーワード：
陽電子断層撮影法、陽電子対消滅寿命分析、ガンマ線ビーム
陽電子が対消滅するまでの時間（寿命）は周辺の電子密度によって変化するため、我々は、陽電子寿命から低酸素がんの識別などを行う量子PET（Q-PET）の実現を目指している。しかし陽電子寿命値と生体内の病気や異常を関連づける基礎データは殆ど無い。そこで、分子研の極端紫外光研究施設(UVSOR)の6.6 MeVガンマ線ビームを利用して、生体を含む試料深部の3次元分析を可能とする陽電子寿命イメージング分析システムを開発することを目的とした。発表ではその詳細を報告する。