2025年第72回応用物理学会春季学術講演会
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9:45 〜 10:00
[15a-K507-4]
ナイフエッジ法によるNEAフォトカソード電子源の光源径測定
〇高根 大地
1
、森下 英郎
1
、大嶋 卓
2
、小瀬 洋一
2
、齋藤 勉
2
、揚村 寿英
2
、桒原 真人
3
(1.日立製作所、2.日立ハイテク、3.名古屋大学)
キーワード:
電子源、負の電子親和力、フォトカソード
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