講演情報

[15a-K507-4]ナイフエッジ法によるNEAフォトカソード電子源の光源径測定

〇高根 大地1、森下 英郎1、大嶋 卓2、小瀬 洋一2、齋藤 勉2、揚村 寿英2、桒原 真人3 (1.日立製作所、2.日立ハイテク、3.名古屋大学)

キーワード:

電子源、負の電子親和力、フォトカソード