[15a-P03-1~9] 12.4 有機EL・トランジスタ

[15a-P03-1] XPSとTOF-SIMSによる有機多層膜の深さ方向電子状態解析

〇五十嵐 陽彦¹、坂田 智裕¹、柴森 孝弘¹、浅原 千鶴¹、高野 皓¹、宮本 隆心¹ (1.東レリサーチセンター)

キーワード：

有機EL、XPS、電子状態