[15p-K404-1~18] 12.2 評価・基礎物性

16:00 〜 16:15

[15p-K404-9] 有機EL材料の結晶性薄膜の作製とエネルギー準位の測定

〇中野 一輝¹、Chiao-Jung(Jason) Su²、Holly Johnson²、Barry P. Rand²、吉田 弘幸^1,3 (1.千葉大院工、2.Princeton Univ.、3.千葉大MCRC)

キーワード：

有機半導体

有機ELでは非晶質薄膜が用いられるが、基礎物性理解には結晶性薄膜の解析が有効で
ある。本研究では、挿入層や加熱アニールを用いることで5種類の有機EL材料の結晶
性薄膜と非晶性薄膜を作製した。これらについて、紫外光電子分光や低エネルギー逆
光電子分光法(LEIPS)を測定し、イオン化エネルギー、電子親和力、バンドギャップな
どのエネルギーパラメータを決定した。これを基に結晶化による電子準位の変化を議
論する。