[15p-K501-1~12] 22.1 合同セッションM 「フォノンエンジニアリング」

14:45 〜 15:00

[15p-K501-7] X線非弾性散乱法を用いたΓ-K点間の音響モードスペクトル線幅増大の考察

〇横川 凌^1,2,3、前田 唯葉⁴、荒井 康智⁵、米永 一郎⁶、萬條 太駿⁷、筒井 智嗣⁷、小椋 厚志^4,3 (1.広島大RISE、2.広島大院先進理工、3.明治大MREL、4.明治大理工、5.JAXA、6.東北大、7.JASRI)

キーワード：

SiGe、X線非弾性散乱、フォノン

SiGeは熱伝導率が小さく、熱伝導率低下メカニズムの解明に向けたフォノン散乱と分散曲線の理解が重要である。これまでにX線非弾性散乱(IXS)を用いてΓ-X点間で音響モード線幅増大を観測した。しかし、他のゾーンでSiGe音響モードスペクトルがΓ-X点間と同様に増大するかについては未だ確認できていない。今回はΓ-K点間のSiGe音響モードに着目し、IXS測定を実施した結果を報告する。