2025年第72回応用物理学会春季学術講演会
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[15p-P05-3]Au(110)基板上に吸着したC60の単分子電子状態観察

〇濱田 航1、和田 光翔1、佐伯 直哉1、片野 諭1 (1.東洋大理工)

キーワード：

フラーレン、状態密度、走査トンネル顕微鏡

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