[16a-K504-1~6] 6.6 プローブ顕微鏡

10:00 〜 10:15奨励賞エントリー

[16a-K504-1] 原子間力顕微鏡を用いた過渡現象における仕事の検出法の開発

〇重野 智宏¹、安井 勇気¹、杉本 宜昭¹ (1.東大新領域)

キーワード：

原子間力顕微鏡