講演情報

14:00 〜 14:15

[17p-K505-5]データ解析フレームワーク 2DMAT による PTRF-XAFS 計測のベイズ推定

〇(M2)中野陽斗^1,2、星健夫¹、高草木達³ (1.核融合研、2.鳥取大工、3.北大触媒研)

キーワード：

ベイズ推定、表面触媒、スーパーコンピューター富岳

自作計測データ解析フレームワーク2DMATを，触媒分野における先端計測である偏光全反射蛍光-X 線吸収微細構造(PTRF-XAFS)計測に応用した．手法テストとして，Ni/σ-MBA/TiO₂(110)表面系にたいして，表面Ni原子を原点とした時に，最近接S原子，O原子の3次元座標を解析対象とした．「富岳」などのスパコンを活用した並列化モンテカルロ計算による高信頼なベイズ推定により，解（原子座標）が一意に決まらない場合でも，正しい解析結果（ベイズ事後確率分布）が得られることが確認された．

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