第76回コロイドおよび界面化学討論会
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[P6-09]
新規GCMCカーネルとベイズ推論による高精度細孔径分布推定手法の確立
*布施 成彬
1
、平出 翔太郎
1,2
、山本 康平
1
、田中 秀樹
2
、仲井 和之
3
、渡邉 哲
1
(1. 京都大学大学院工学研究科化学工学専攻 (日本)、2. 信州大学アクア・リジェネレーション機構 (日本)、3. マイクロトラック・ベル株式会社 (日本))
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キーワード:
細孔径分布、ベイズ推定、表面ラフネス
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