[A1423-3pm] 化学者のための放射光ことはじめー小角Ｘ線散乱による構造解析の基礎と応用

13:45 〜 14:15日本語

[A1423-3pm-02] 材料評価のための放射光小角X線散乱測定装置の利用

○増永 啓康¹ (1. 高輝度光科学研究センター)

キーワード：

放射光,小角X線散乱,マイクロビーム