[A1453-3am] 06. 分析化学

11:10 〜 11:30日本語

[A1453-3am-07] ガンマ線誘起陽電子消滅寿命測定による酸化セリウムの格子欠陥評価

○道志 智¹、前田 和紀¹、平 義隆²、渡邊 真太³、平出 哲也⁴ (1. 大阪技術研、2. 分子研、3. AGC 先端基盤研究所、4. 原子力機構)

キーワード：

ガンマ線,陽電子消滅寿命測定,酸素欠陥,酸化セリウム