[OS6-1-3] AE・センシング

16:20 〜 16:40

[OS6-1-3-03] 通電摩擦下の水膜厚さによる損耗状態とAE周波数の変化

〇平井 悠翔¹、長谷 亜蘭¹ (1. 埼玉工業大学)