[S4] S4.界面ナノ構造と機能の材料科学(1)

13:40 〜 13:55

[S4.2] 放射光X線回折を用いた硫化物全固体電池の高電位劣化機構解析

*李 炎釗¹、山中 一輝¹、渡邊 健太¹、清水 啓祐²、田村 和久³、鈴木 耕太²、菅野 了次²、平山 雅章^1,2 (1. 東京科学大物質理工、2. 東京科学大総合研究院、3. 原子力機構)

キーワード：

全固体電池、硫化物電解質、エピタキシャル薄膜、放射光X線回折、固体/固体界面

放射光Ｘ線回折により、硫化物系全固体電池の正極界面における正極の表面部分は4.6Vまで充電しても構造が安定な一方、正極バルクは正極表面と異なる劣化挙動を示すことを明らかにした。