講演情報

[G3002]レーザーアブレーション誘電体バリア放電質量分析法によるポリマーの劣化解析

○松岡 友樹1、西條 佳孝2、鈴木 敏弘1、平田 岳史1 (1. 東京大, 2. AGC株式会社)

キーワード:

質量分析、高分子化合物、Kendrick Mass Defect、劣化評価