講演情報
[14p-K206-8]PLD 法によるLa3Ni2O7薄膜の作製とエピタキシャル歪み効果
〇森田 航太1、岡部 博幸2,3、中村 惇平3、桑原 英樹1、門野 良典3、足立 匡1 (1.上智大理工、2.東北大金研、3.KEK 物構研)
キーワード:
2枚層ニッケル酸化物、パルスレーザー堆積法、圧力誘起超伝導
高圧下でTc ~ 80 Kの超伝導を示すLa3Ni2O7の圧力と物性の関係を調べるため、Nd:YAGレーザーを用いたパルスレーザー堆積(PLD)法を用いて、La3Ni2O7-δ薄膜をab面内格子定数がより小さいLaAlO3基板上に作製した。その結果、先行研究のバルク試料よりも電気抵抗率が小さく、また半導体的な温度依存性が見られた。これは、基板からの圧縮歪みによって電気伝導性が向上し、バルクと同様に圧力印加によって半導体的な振る舞いを示した可能性がある。