講演情報
[14p-K305-6]結晶中の積層欠陥界面でのX線異常透過
〇香村 芳樹1、澤田 桂1、高野 秀和1、石川 哲也1 (1.理研)
キーワード：
積層欠陥、異常透過、バンドトポロジー
周期媒体におけるエッジに注目した「バンドトポロジー」の例として、マイクロ波を非周期層が内在する多層膜試料に照射し、反射周波数帯域で、約100%の透過率が計測されている。我々は、周期性が破れた結晶中積層欠陥界面近傍で、約200%の透過率を示すX線異常透過現象を世界で初めて観察し、高透過率は、積層欠陥から離れた結晶領域から界面に向かう方向に、「X線横滑り現象」でX線が集められた結果であることを示した。