講演情報

[14p-K504-8]AlGaAs/GaAsヘテロ構造を用いたMEMSボロメータにおける漏れ抵抗に関する研究

〇(M2)早見 智乃介1、高橋 和宏2、長井 奈緒美1、黒山 和幸1、平川 一彦1 (1.東京大学、2.浜松ホトニクス)

キーワード:

メムス、テラヘルツ検出

MEMS技術を用いて作製される機械的両持ち梁共振器構造は、共振周波数のシフトを信号として用いる新しい原理のテラヘルツ(THz)検出器であるが、梁の駆動側に交流電圧を印加すると、他端の検出側にもわずかに(約1 %程度)駆動電圧が漏れて現れる現象が観測された。この駆動側の電圧が検出側に漏れる原因を探るとともに、その抑制に関する検討を行ったので報告する。