講演情報
[14p-K507-10]二酸化チタン表面の酸素欠損の構造認識と配列解析
-認識法の改良による解析改善-
坪倉 奏太1,2、河野 翔也3、今井 弓子4、上田 正4、中本 圭一4、野間 春生1,2、日置 尋久1、〇湊 丈俊4 (1.京大人環、2.立命大情報理工、3.九工大、4.分子研)
キーワード：
画像解析、酸素欠損、走査プローブ顕微鏡
走査プローブ顕微鏡は、ナノスケールおよび原子スケールでの構造、電気、電子、磁気特性を解析するのに優れた手法であり、高解像度の画像データを与える。従来のSPM画像解析では、フーリエ変換や自己相関解析などの手法が広く用いられているが、これらの手法では非周期的や複雑な構造を持つデータから局所的な相互作用を解析することが困難である。本講演では、新たに開発した手法により、SPM画像の一部をテンプレートとして使用し、データ画像との差異を局所的に解析することで、特定の局所構造を認識し、局所的な相互作用を解明する。