講演情報
[15a-K101-3]RF反射測定におけるIQ符号化条件の最適化
〇(B)根上 直也1、溝口 来成1、柳 至2、峰 利之2、土屋 龍太2、久本 大2、水野 弘之2、小寺 哲夫1 (1.東京科学大、2.日立研開)
キーワード：
量子ドット、RF反射測定
量子ドットの大規模集積化においては、配線数の削減や単位時間当たりの読み出し数増加などの効率化が必要である。RF反射測定における反射率をIQ平面上にプロットすることによるIQ符号化はその解決案の一つである。本研究では、２ビット４状態の読み出しにおけるIQ平面上での信号配置に関して、ゲート電圧の調整による信号間距離の調整、また電界トランジスタ構造を用いた偏角差の調整が可能であることを示し、それらの最適条件の探索を行った。