講演情報
[15a-K404-4]絶縁体の表面電位計測を用いた光電子収量分光測定の試み
〇(M1)神村 英一郎1、大原 正裕1,4、星川 瑠菜1、石井 久夫1,2,3 (1.千葉大院融合理工、2.千葉大先進、3.千葉大MCRC、4.信州大工)
キーワード：
光電子収量分光法、ケルビンプローブ法、絶縁体
光電子収量分光法(PYS)は、様々な有機電子材料のイオン化エネルギーを決定するために広く利用されている手法だが、既存の方式には環境依存や感度に問題がある。本研究では、真空・大気下で高感度かつ絶縁体に対応可能なPYSを目指すため、照射光を波長掃引しながら回転型Kelvin Probe(RKP)を用いて表面電位変化をリアルタイム測定できる系を作製し、その有効性をTPBi薄膜で検証した。