講演情報
[15a-K404-7]AFM-IRによるナノ構造解析で解明するベンゾポルフィリン前駆体薄膜の熱転化反応メカニズム
〇(DC)岡 昂徹1、塩谷 暢貴1、上野 創1、山内 光陽1、山田 容子1、長谷川 健1 (1.京大化研)
キーワード：
AFM-IR、原子間力顕微鏡法、赤外分光法
ベンゾポルフィリン誘導体は優れた有機半導体材料であり，前駆体法を用いることで幅広い製膜手法が適用できる．前駆体材料の反応過程については多くの先行研究が存在するものの，薄膜中の構造分布に注目した例は少ない．本研究では，AFM画像中の微小領域IRスペクトルを測定するAFM-IRを用いて構造解析を行った．その結果，中間体が混在する複雑な薄膜中の構造分布をナノメートルオーダーで初めて明らかにした．