講演情報
[15a-K406-1][第57回講演奨励賞受賞記念講演] 量子ビット応用に向けたsidewall spacer構造を有するフルエピタキシャルNbN/AlN/NbNジョセフソン接合
〇本田 浩輝1、栗原 大輝1、Pham Duong1、沓間 弘樹1、寺井 弘高2、山下 太郎1 (1.東北大院工、2.情通機構)
キーワード:
超伝導量子ビット、sidewall spacer構造、NbN/AlN/NbN接合
フルエピタキシャル成長したNbNジョセフソン接合を用いた量子ビットは,結晶化した絶縁層により欠陥二準位系の低減が期待されているが,複雑な素子作製プロセスにより本来のコヒーレンス特性が抑制されている可能性がある.本研究では,従来プロセスに比べて,損失源となるSiO2エッチング残渣が生じにくいsidewall spacer構造を有するNbN/AlN/NbN接合の作製を行った.