講演情報

[15a-K406-2]トランズモン量子ビットにおける1量子ビットゲートリークエラー評価

〇阿部 徹1,2、村上 亮1,2、土肥 義康1,2、佐藤 信太郎1,2、田渕 豊2、中村 泰信2,3 (1.富士通、2.理研RQC、3.東大院工)

キーワード:

量子コンピュータ、量子制御、トランズモン量子ビット

本発表では10-4程度の高忠実度領域において無視することのできない計算基底外へのリークエラーに焦点を当てる。トランズモン量子ビットに対してLeakage Randomized Benchmarking、および緩和測定を行った結果、10-4を上回る量子ゲート由来のリークエラーが確認された。今後は測定処理の拡張と効率化により2量子ビットゲートのリークエラー、およびチップ全体の傾向を調べる予定である。