講演情報
[15p-K309-9]量子光シミュレータを用いた量子状態トモグラフィのエラー要因推定
〇大場 淳平1、Hsin-Pin Lo2、山田 康博2、松井 崇行1、生田 拓也2、米津 佑哉2、本庄 利守2、梶田 晴司1、武居 弘樹2 (1.豊田中研、2.NTT物性研)
キーワード：
エラー要因推定、時間ビン量子もつれ光子対、量子状態トモグラフィー
高度な量子情報処理の実現のためには、高品質な量子状態生成が鍵となる。一般に量子状態トモグラフィーによる質の評価が行われるが、測定結果には様々なエラーが一つの密度行列に押し込まれているため、直接的にエラー要因を推し量るのは困難である。我々は、時間ビンもつれ光子対生成実験を題材に、シミュレーションとパラメータ最適化を組み合わせることで、実験結果を再現するエラー要因の自動推定を実施した。