講演情報
[15p-P05-49]Strain effect detected by Raman peak shifts in bulk layered semiconductor SnS
〇小山 和輝1、森 敦彦1、石原 淳1、山本 壮太1、裵 星旻1、熊谷 悠1、好田 誠1,2,3,4 (1.東北大院工、2.東北大CSIS、3.東北大DEFS、4.QST QUARC)
キーワード：
二次元材料、ラマン分光法、ひずみエンジニアリング
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