講演情報

[15p-P05-49]Strain effect detected by Raman peak shifts in bulk layered semiconductor SnS

〇小山 和輝1、森 敦彦1、石原 淳1、山本 壮太1、裵 星旻1、熊谷 悠1、好田 誠1,2,3,4 (1.東北大院工、2.東北大CSIS、3.東北大DEFS、4.QST QUARC)

キーワード:

二次元材料、ラマン分光法、ひずみエンジニアリング