講演情報
[16a-K209-7]超伝導デジタル回路パラメータの長期間経時変化
〇日高 睦夫1、永沢 秀一1 (1.産総研)
キーワード：
超伝導デジタル回路、臨界電流密度、長期間経時変化
過去に測定されたチップと測定データ両方が残っているデバイスの再測定を行うことで、超伝導デジタル回路パラメータの長期間にわたる経時変化を調べた。チップは室温で大気中に保存されていた。測定間隔は最長15年半である。ジョセフソン接合の臨界電流密度は時間とともに減少し、10年で5%程度の減少が観察された。この減少の原因はアニールと同じ現象が長期間の間に起こっているのではないかと推察される。