講演情報
[16a-K307-5]静電結合したシリコンナノドット間を流れる熱流ゆらぎの観測
〇知田 健作1、アンドリュー アントワン1、西口 克彦1 (1.NTT物性研)
キーワード：
シリコンナノデバイス、電子計数統計、熱流
ナノデバイス中の熱流（エネルギーの流れ）はゆらいでおり、その大きさはデバイスの動作効率と密接に関わっている。しかし、ナノデバイスの熱流を外乱なく正確に測定することは極めて困難である。本講演では、単電子ダイナミクス計測によりナノドット間を流れる熱流のゆらぎを観測したので、その手法について報告する。